FLIM荧光寿命是荧光分子停留在激发态的时间，是荧光分子的固有性质，同荧光强度成像相比，荧光寿命成像具有不受染料浓度、不受光漂白、不受样本厚度和光源噪声的影响等诸多优点，通过这一技术手段可以深入地进行功能性测量，获取分子构象、分子微环境变化等信息，研究分子间的相互作用。

培训内容：荧光寿命成像（FLIM）的原理及应用

培训时间：2023年3月23日（周四）10:00-11:00

培训方式：线上-腾讯会议

主讲人：齐瑶  Leica应用工程师

联系方式：孙老师 sunyue#mail.tsinghua.edu.cn（发送邮件时请将“#”替换成“@”）

报名方式：

访问链接：http://sapphireking.mikecrm.com/jE4h53W

或扫描二维码：

备注：

1. 报名截止时间2023年3月22日17:00，报名截止后将进行邮件确认并发送参会信息；

2. 线上讲座校内外人员均可报名参加；

3. Leica激光共聚焦显微镜系列专题培训的日程安排如下，欢迎大家报名参加。

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