受激发射损耗显微镜（Stimulated emission depletion microscope）是第一个用来突破衍射极限的远场光学显微技术。STED采用两束组合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射极限焦斑，使焦斑内的荧光分子处于激发态；另一束是中心光强为零成环形焦斑的损耗光，两束光进行叠加，损耗光通过受激发射过程损耗周边区域内的激发态荧光分子。因此，周边区域内的荧光分子被损耗，只剩下中心的荧光发光点，从而实现小于衍射极限的荧光发射面积。受激发射损耗超高分辨率共聚焦显微镜 xy分辨率≤50nm，z轴分辨率≤ 130nm。目前，STED技术已经被广泛用于神经生物学、病毒学和细胞生物学等研究领域。

培训内容：1、STED受激发射损耗显微镜原理；2、STED染料的选择和样品的制备；3、影响STED成像结果的因素及其使用注意事项；4、STED应用案列。

主讲人：Leica 资深应用工程师 刘继红

培训时间：

理论培训，2021年4月23日（周五） 9:30-11:00

上机操作，A组：2021年4月23日（周五）13:15-15:00；B组：2021年4月23日（周五）15:30-17:15

培训地点：

理论培训，清华大学生物技术馆2201

上机操作，清华大学医学科学楼C119

联系邮箱：孙老师 sunyue#mail.tsinghua.edu.cn（发送邮件时请将地址中的“#”替换成“@”）

报名方式：

访问链接：http://sapphireking.mikecrm.com/fIB5EfF

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备注：

1、本次培训提供午餐，可以以实验室为单位报名参加，欢迎携带实验样品。

2、报名截止时间4月22日12:00，校外人员需在报名截止时间前通过邮件联系工作人员申请入校。

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