仪器名称: FEI Helios NanoLab G3 UC 9922567
仪器编号: 17012948
生产厂家: FEI
型号: Herrios Nanolab G3UC
出厂日期: 201511
购置日期: 201705
FEI Helios NaoLab G3 UC双束扫描电子显微镜
序号 |
收费项目 |
校外价格 |
校内价格 |
院/系内价格 |
备注 |
1 |
常温SEM使用机时费 |
500元/小时 |
250元/小时 |
250元/小时 |
耗材费另算 |
2 |
常温SEM+FIB使用机时费 |
800元/小时 |
400元/小时 |
400元/小时 |
耗材费另算 |
3 |
冷冻SEM使用机时费 |
600元/小时 |
400元/小时 |
400元/小时 |
耗材费另算 |
4 |
冷冻SEM+FIB使用机时费 |
1000元/小时 |
600元/小时 |
600元/小时 |
耗材费另算 |
Helios Nanolab G3 UC 是目前世界上非常先进的用于细胞、组织等生物样品成像的双束扫描电子显微镜:
1、具有Dual Beam—场发射扫描电子双束(SEM)和聚焦离子束(Focused Ion Beam, FIB):场发射电子枪,电子束加速电压可在350 V - 30 kV之间调节;Ga离子枪,离子束加速电压可在500 V – 30 kV之间调节。借助Dual Beam,FEI AutoSlicer&Viewer软件可实现生物样品在大尺度范围自动化连续断面成像(Serail Block Face Imaging),以实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构。
2、同时配备了Quorum的PP3010T冷冻传输设备,可以实现生物样品原生态(native state)快速冷冻固定、加工,对冷冻样品表面或者断面的精细形貌、结构进行观察和分析,适用于细胞、植物组织等;也可以与Corrsight成像的荧光信号相关联(FEI Maps),借助FIB减薄技术对标识的特定区别进行加工减薄,便于冷冻透射电子显微镜下高分辨率图像信息的采集。
3、常温生物样品和其他材料表面精细形貌和超微结构的观察和分析。
4、FEI Maps软件可实现样品大尺度montage 图像的采集和完美拼接。