受激发射损耗显微镜（Stimulated emission depletion microscope）是第一个用来突破衍射极限的远场光学显微技术。STED采用两束组合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射极限焦斑，使焦斑内的荧光分子处于激发态；另一束是中心光强为零成环形焦斑的损耗光，两束光进行叠加，损耗光通过受激发射过程损耗周边区域内的激发态荧光分子。因此，周边区域内的荧光分子被损耗，只剩下中心的荧光发光点，从而实现小于衍射极限的荧光发射面积。受激发射损耗超高分辨率共聚焦显微镜 xy分辨率≤50nm，z轴分辨率≤ 130nm。目前，STED技术已经被广泛用于神经生物学、病毒学和细胞生物学等研究领域。 

讲座内容：1、STED受激发射损耗显微镜原理；2、STED染料的选择和样品的制备；3、影响STED成像结果的因素及其使用注意事项；4、STED应用案列。

特邀主讲人：TimWinter 工程师 齐冬

主持人：细胞生物学平台工程师 孙悦

讲座时间：2020年5月21日（周四）9:30-11:00（报名截止时间5月20日12:00）

讲座方式：线上讲座-腾讯会议

联系方式：sunyue#tsinghua.edu.cn  孙老师（发送邮件时请将地址中的“#”替换成“@”）

报名方式：

访问链接：http://sapphireking.mikecrm.com/Y835yzp

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注：5月20日下午通过邮箱发送讲座链接。

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